LED进入照明领域，引发了一场新的照明技术领域的革命。其中一项就是对照明产品性能的检测和评价的影响。
与传统光源相比，LED光源的光电特性更为复杂，使用传统光源的测量方法和测量仪器已经不能完全描述新光源及灯具的光色性能，并且测量准确度不能得到充分的保证。
例如，与传统光源单个发光体的特征不同，LED往往是以阵列方式组合在一起以达到白炽灯或荧光灯的照明效果，即由多个发光体组成并发光的。由于LED灯具（如LED路灯，LED灯管）面积较大，发光方向性强，蓝光芯片的发光会随着温度和时间变化，在实际照明环境中，人们开始更关心灯盘或灯管的照度、亮度、均匀度，灯具在点亮后温度与颜色的变化，以及灯具对人眼感觉的影响。
所以，对LED产品的光电特性、色度特性、产品可靠度等性能的要求和产品设计也提出了更高的要求。对于照明从业人员，如照明终端设计师、工程师以及LED研发制造人员来说，既需要掌握传统照明行业的知识、国内外标准动态，又需要熟悉和了解LED 器件方面的知识，特别是要准确把握LED灯具界定以及与传统照明灯具差异性。这时，如果出现一款更符合需求的检测设备，将大大有利于他们工作的开展。但是，作为他们其中一员的你，是否总是遇到如下情况？
照明行业人士面临哪些测量困境？
LED研发部门、生产部门：
现阶段国内LED 照明产品存在鱼龙混杂的现象，制造商声称的产品性能往往与实际结果相差甚远，颜色质量、寿命预测上更是极度夸大，长期来讲，这对企业本身和我国LED照明产业的发展以及消费者信心的培育上都是不利的。因此，使用检测设备极其必要。但是传统的检测设备往往具有体积庞大无法自如携带、无法实时读取数据、在测量LED等非连续性发光光谱的光源时存在精度不高、检测的光度和色度等参数条目有限、功能少等特点，对企业的质量控制造成了很大的影响。
LED销售部门、经销商：
随着人们对照明感官视觉追求的进一步提高，也对相应的光学检测技术提出了新的要求。试想，当销售部门面对经销商、零售业者面对终端消费者时，如果能对现场或者LED照明产品直接进行测量，并且能够主动帮助用户进行比较，且能出具检测报告，将照明效果面对面展示于人，岂不比三寸不烂之舌更具有说服力？
LED照明设计师、工程师：
设计的过程中最常遇到的问题是LED灯具的配光问题。很多厂家无法提供准确的配光分布，在设计时无法确认该产品能否符合设计要求，或者是在设计时提供了配光，但实际供货时的产品并不符合原先提供的配光。这就要求LED灯具供应商、LED照明企业及时提供准确、可信的色温、色度、照度等光学数据，为照明设计师提供精准的灯光改良参照，方便其用料选型。对于工程单位、施工方亦是如此，检测设备应能方便直观地为工程师对提供LED灯具光度和色度参考。
准确测量的意义不仅如此。「北京清华同衡规划设计研究院有限公司光环境研究所技术中心主任马晔本身负责技术工作，她深信照明设计师与室内设计师的基础，是需要了解设计落实中的“警戒线”，也就是达到怎样的层面不至于犯错。她会随身携带照度计、亮度计这些基本仪器，测试酒店大堂等实际照明应用中的产品参数与使用规范。她建议设计师通过这种方式学习，在行业培训体系尚未完善、行业交流覆盖不广的情况下，这是照明设计师应该重视的、一种极其直观的获取和交流经验的学习途径。——第七届“照明周刊杯”中国照明应用设计大赛上马晔就相关议题发表观点」
市政单位
由于中国政府对节能环保的LED照明的推广、十城万盏计划的实施，各地对LED路灯的评测项目陆续进行，光色度检测引起了全国各地LED路灯项目的重视。对于路灯管理者来说，不稳定的产品质量无疑使得维修成本攀高，如路灯的配光系统设计不合理。精准的光学性能测试将有助于对LED灯具质量进行正确评价。
光谱照度计能带来什么
你想要测量精度高吗？给你！你嫌测量范围窄么？不怕！你需要更多详尽参数吗？可以！你想要随时随地测量吗？必须！操作复杂让你烦躁吗？不能！你还在为数据无法实时读取而担忧吗？不用！你想要一器多用吗？当然！你的可信度还在遭遇挑战吗？走开！你还在为价格高而神伤吗？不必！统统看这里，远方SPIC-200光谱彩色照度计将从你的角度出发，于细微处悄然助测量换上全新面貌，丝丝润润渗透进你的工作中，为你带来便利与支持！
对于高品质照明的全面评价来说，光谱测量时代已经到来，这一认识从实验室一直延伸至现场测量，付诸实践，仪器的测量速度和线性范围是关键。SPIC-200 光谱彩色照度计集光谱、照度、色度以及植物光度等测量功能于一体，采用多项国际专利技术，解决了传统照度计及色度计的光谱失配困扰，实现零失配，其卓越的测量线性和极高的测量准确度更是成为了其广受市场关注的主要原因。
主要特点及技术指标：
1、精度高、测量范围广 SBCT 及杂散光校正专利核心技术，提升了手持式光谱彩色辐照度计的测量线性及测量准确度；其中，SBCT（分光-积分相结合方法），是世界公认的光度/辐射度测量的最高精度的方法；而采用专利的复变矩阵杂散光校正技术，使光谱测量中的杂散光控制能力提高1~2个数量级。已授权的专利号有：US7978324B2、ZL200710068109.9、ZL201320454495.6等，分别为美国专利、中国发明专利和实用新型专利。